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產(chǎn)品與技術

• 制造類EDA

  • SPICE模型

    • 基帶建模 / BSIMProPlus
    • 射頻建模 / MeQLab
    • 自動化提取 / SDEP
    • 驗證評估 / ME-Pro

  • PDK

    • PCell開發(fā) / PCellLab
    • PDK驗證 / PQLab

  • 標準單元庫

    • 特征化 / NanoCell
    • 驗證 / LibWiz

• 泛模擬設計類EDA

  • 電路設計平臺

    • 原理圖設計 / NanoDesigner SE
    • 版圖編輯 / NanoDesigner LS
    • 交互式物理驗證 / NanoDesigner?iV
    • 設計優(yōu)化 / NanoDesigner?Optimizer

  • 電路仿真

    • SPICE仿真器 / NanoSpice
    • SPICE仿真器 / NanoSpice X
    • SPICE仿真器 / NanoSpice?Giga
    • FastSPICE仿真器 / NanoSpice?Pro
    • FastSPICE仿真器 / NanoSpice Pro X
    • 混合信號仿真 / NanoSpice?MS
    • 波形查看分析 / NanoWave

  • 電路分析

    • 動態(tài)和靜態(tài)電路檢查 / NanoSpice CCK
    • 良率分析 / NanoYield
    • 信號完整性分析 / NanoSpice?SI
    • 路徑分析 / PathInspector
    • 功率及電源芯片設計驗證 / PTM
    • 電源網(wǎng)絡分布分析 / RNi
    • ESD驗證 / ESDi

• 數(shù)字設計類EDA

  • 電路仿真

    • 數(shù)字仿真 / VeriSim

  • 標準單元庫

    • 特征化 / NanoCell
    • 驗證 / LibWiz

  • SoC設計與驗證

    • 時序分析 / TRASTA
    • 設計布局規(guī)劃 / NavisPro
    • 信號完整性 / NanoSpice?SI
    • 電源分析 / PTM
    • ESD驗證 / ESDi
    • 芯片封裝連接驗證 / PadInspector

• 測試系統(tǒng)

  • 參數(shù)化測試

    • 半導體參數(shù)測試 / FS-Pro
    • 半導體參數(shù)測試 / FS-MEMS
    • 半導體參數(shù)測試 / FS800

  • 噪聲測試

    • 低頻噪聲測試 / 9812DX
    • 低頻噪聲測試 / 9812E
    • 低頻噪聲測試 / 9813DXC
    • 動態(tài)交流噪聲測試 / 9812AC

  • 綜合量測

    • 自動量測方案 / ATS
    • 電性參數(shù)測試軟件 / LabExpress

• 一站式技術開發(fā)

  • 晶圓測試

    • 數(shù)據(jù)測試 / 數(shù)據(jù)測試與分析

  • SPICE建模

    • SPICE建模 / 模型提取與驗證

  • 測試芯片設計

    • 測試結構和版圖 / 測試結構設計與版圖實現(xiàn)

  • 新器件

    • 新器件 / 新器件解決方案

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