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噪聲測試

首頁 產(chǎn)品與技術(shù) 測試系統(tǒng)

9813DXC

先進(jìn)低頻噪聲測試系統(tǒng)

低頻噪聲測試 1/f & RTN噪聲 高精度寬帶測試

9813DXC是一套功能完善的先進(jìn)低頻噪聲測試系統(tǒng)，支持多種半導(dǎo)體器件類型在各種工作條件下（如200V高壓、10pA極低電流等）的高精度噪聲測試。通過低頻噪聲測試，可以幫助芯片制造廠檢測和排除工藝制造缺陷，確保芯片質(zhì)量符合預(yù)期，提高芯片穩(wěn)定性。

  • 晶圓級噪聲測試精度和高測試帶寬，最低測試噪聲電流精度低至10-27A2/Hz。

  • 覆蓋10Ω到10MΩ高阻抗器件和低阻抗器件測試。

  • 支持并行測試架構(gòu)解決方案以及協(xié)同F(xiàn)S-Pro半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)等方式，大幅提高測試效率和吞吐量。

  • 適用于從成熟工藝到28nm、14nm、10nm、7nm和5nm等先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)。

  • 內(nèi)置功能強(qiáng)大的NoiseProPlus軟件，支持1/f噪聲、RTN噪聲測試和數(shù)據(jù)分析。


下載產(chǎn)品單頁

產(chǎn)品亮點(diǎn)

  • 高精度

    最高DC電流精度：10pA
    系統(tǒng)噪聲電流精度：<10-27A2/Hz

  • 高速度

    典型噪聲測試速度提高至
    一個偏置條件僅需20s

  • 應(yīng)用廣泛

    MOSFET, SOI, FinFET, TFT, HV/LDMOS, BJT/HBT, JFET, Diode, Resistor, Packaged IC等器件

  • 并行測試

    支持高精度、高測試吞吐率
    并行測試

  • 集成化架構(gòu)

    硬件架構(gòu)硬件架構(gòu)全新升級
    提升系統(tǒng)集成性

  • 易于操作

    配置觸摸屏
    直觀顯示，易于操作

產(chǎn)品應(yīng)用

  • 芯片制造工藝研發(fā)、
    質(zhì)量評估、品質(zhì)監(jiān)控

  • 半導(dǎo)體器件
    SPICE模型開發(fā)

  • 電路設(shè)計(jì)
    性能優(yōu)化

  • 半導(dǎo)體物理和
    材料研究

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